2012年5月，美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱NI）近日發布了NI PXIe-8115高性能嵌入式控制器，配備了最新的Intel®第二代 Core™ i5雙核處理器，能夠縮短測試時間，是多核應用程序的理想選擇。 NI PXIe-8115控制器具有多種外設I / O端口以及6個行業領先的USB 2.0端口。 這些板載外設端口最大限度地減少了外部適配器的個數，幫助工程師搭建符合成本效益的混合系統。 NI PXIe-8115嵌入式控制器的In-ROM和硬盤驅動診斷功能能夠判定控制器的健康狀況，從而提高操作性能，并最大限度地減少系統停工時間。 將控制器與NI LabVIEW系統設計軟件結合，工程師可在各類測試、測量和控制應用中提升開發效率。
        Intel Core i5-2510E處理器為NI PXIe-8115控制器提供了2.5 GHz的基本時鐘頻率，并采用Intel Turbo Boost技術，基于應用類型自動增加時鐘頻率。 舉例來說，當運行只生成單處理線程的應用程序時，CPU會將一個未使用的內核置于空閑狀態，并將活動內核的時鐘頻率從2.5 GHz提高至3.1 GHz。 這樣，無需多線程的軟件應用程序，就能采用最新的CPU。  它既可在雙核、也可在高性能的單核模式下操作， 這種靈活性使得控制器可適用于各種應用，包括高性能的自動化測試和工業控制。
        除了高性能的CPU以外，NI PXIe-8115控制器還配備了6個USB 2.0端口、2個可連接多臺顯示器的顯示端口、雙千兆以太網、GPIB、串行和并行端口。 有了豐富的外設I/O，用戶就無需再購買單個PXI模塊。PXI機箱中的插槽支持測量模塊而不是標準I / O，因此工程師可以優化使用它們。對于占用較大內存的應用程序，控制器還標配了2 GB 1333 MHz DDR3內存，最高可擴展至8 GB并支持Windows 7 64位操作系統。 NI PXIe-8115控制器結合NI PXIe-1082機箱，使其能夠適用于 深層分析、信號和圖象處理以及高速數據采集。
        為了提高PXI系統的穩定性，NI PXIe-8115控制器配備了In-ROM和硬盤驅動診斷功能，確保實現PXI嵌入式控制器的操作性能。 有了這項新功能，工程師們就無需再使用第三方工具來確定內存和硬盤的健康狀況。 全新的NI PXIe-8115將診斷分析功能與NI備用硬盤驅動和內存相結合， 提高了操作性能，從而減少了停工時間，并確保給應用程序帶來最小的影響。
欲了解PXI控制器的更多細節，請訪問www.ni.com/pxi/zhs/。
更多NI PXI資源：
NI PXI的優勢探究：http://www.gongkong.com/Common/Details.aspx?c=1&m=4& l=22&Type=datum&CompanyID=6-AB3C-99CBCD414E68&Id=2012021510315800003
自動化測試趨勢展望2012：http://www.gongkong.com/Common/Details.aspx?c=1&m=4& amp;l=22&Type=datum&CompanyID=6-AB3C-99CBCD414E68&Id=2012050314043300001
基于PXI構建先進自動化測試系統：http://www.gongkong.com/Common/Details.aspx?c=1& m=4&l=22&Type=datum&CompanyID=6-AB3C-99CBCD414E68&Id=2012031910234800004
關于NI
        自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI (www.ni.com)一直致力于為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創新和探索。 NI的圖形化系統設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統的開發。 長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術來改善社會的發展，確保客戶、員工、供應商及股東獲得成功。